原子力顯微鏡

原子力顯微鏡用于故障分析和大型樣品研究的納米計量工具

作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器，其主要目的是對樣品進行缺陷檢測。而儀器所提供的數據不能允許任何錯誤的存在。Park NX20，這款精密的大型樣品原子力顯微鏡，憑借著出色的數據準確性，在半導體和超平樣品行業中大受贊揚。

分析功能

Park NX20可快速幫助客戶找到產品失效的原因，并幫助客戶制定出更多具有創意的解決方案。精密度為您帶來高分辨率數據，讓您能夠更加專注于工作。與此同時，真正非接觸掃描模式讓探針尖端更鋒利、更耐用，無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和金錢。

即便是第一次接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作

ParkNX20擁有業界便捷的設計和自動界面，讓你在使用時無需花費大量的時間和精力，也不用為此而時時不停的指導初學者。借助這一系列特點，您可以更加專注于解決更為重大的問題，并為客戶提供及時且富有洞察力的失效分析報告。

樣品側壁三維結構測量

NX20的創新架構讓您可以檢測樣品的側壁和表面，并測量它們的角度。眾多的功能和用途正是您的創新性研究和敏銳洞察力所必備的。

對樣品和基片進行表面光潔度測量

表面光潔度測量是Park NX20的關鍵應用之一，能夠帶來精確的失效分析和質量保證。

高分辨率電子掃描模式

QuickStep SCM

掃描式電容顯微鏡

PinPoint AFM

無摩擦導電原子力顯微鏡